半导体与靶材制造

●溅射靶材品质升级超高纯度钛粉制备的靶材,可将薄膜杂质浓度控制在**ppb级**,确保晶圆渡层均匀性(不均匀度≤3%),提升5nm以下制程芯片的良品率。

低氧与超细协同效应
氧含量≤900ppm避免镀膜氧化缺陷,3-5pm粒径实现靶材密度299.5%理论值,减少溅射过程中的颗粒飞溅,延长靶材使用寿命30%以上。

客户价值
降低半导体企业靶材更换频率与品圆返工成本,助力客户满足SEMI国际半导体材料标准。